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放樣品在恒溫恒濕試驗(yàn)箱內(nèi)測試流程

發(fā)布時(shí)間: 2020-05-12  點(diǎn)擊次數(shù): 1440次

   每款不一樣的測試樣品,放入到了恒溫恒濕試驗(yàn)箱中做實(shí)驗(yàn),它們都有一定的講究。有一空的測試流程,以下皓天小編總結(jié)供參考:

  1、在樣品斷電的狀態(tài)下,先將溫度下降到-50°C,保持4個(gè)小時(shí);請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試,非常重要,因?yàn)橥姞顟B(tài)下,芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20°C以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進(jìn)行測試。

   2、開機(jī),對樣品進(jìn)行性能測試,對比性能與常溫相比是否正常。

   3、進(jìn)行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯(cuò)誤。

   4、升溫到+90°C,保持4個(gè)小時(shí),與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個(gè)小時(shí)后,執(zhí)行2、3、4測試步驟。

   5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。

   6、如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),則視為測試失敗。